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具备计量功能的日盲紫外成像探测技术
日盲紫外成像探测

日盲紫外谱段位于240~280nm的紫外区,由于大气平流层中臭氧的强烈吸收,太阳光谱中该谱段辐射无法照射至地表,因此在该谱段探测可天然避免自然界复杂背景干扰,虚警率极低。受限于地表大气的强烈吸收及散射,日盲紫外成像探测面临的挑战在于如何保证“日盲”的同时实现光子计数水平的极微弱信号探测。日盲紫外成像探测技术典型应用包括高压电力设备绝缘损伤早期探测、工业不可见火焰探测等领域。

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本团队专注于日盲紫外成像探测达10余年,在系统设计、核心元件、信息处理及仪器开发方面具备自主核心技术,研发的紫外电晕探测仪已投入国内市场。目前,积极拓展紫外成像探测技术与可见光、红外探测技术的融合,在多光谱(通道)成像探测系统研发及应用方面积累了丰富的经验,可承接各类多光谱成像探测系统的定制、开发。

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